Die angezeigten Statistiken werden vom GEO-LEOe-docs zu Grunde liegenden DSpace-System generiert. Sie werden von automatisierten Maschinenzugriffen (z.B. durch Crawler) weitgehend bereinigt, entsprechen allerdings nicht dem COUNTER-Standard. Für weitere Informationen klicken Sie hier.

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Small‐angle X‐ray scattering from GaN nanowires on Si(111): facet truncation rods, facet roughness and Porod's law176

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Small‐angle X‐ray scattering from GaN nanowires on Si(111): facet truncation rods, facet roughness and Porod's law6732624

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Anzahl
AYA2_AYA2IV5011.pdf150

Zugriffe nach Ländern

Anzahl
Vereinigte Staaten von Amerika86
Irland35
Russland17
Deutschland9
Schweden6
Vietnam6
Frankreich5
Spanien2
Mexiko2
China1

Zugriffe nach Städten

Anzahl
Dublin33
Ashburn31
Los Angeles12
Hanoi6
Strasbourg5
Des Moines4
Höst4
Redwood City4
Fairfield3
Berlin2